Results
|
1.
|
|
|
2.
|
Успехи наноинженерии: электроника, материалы, структуры [Джайлс Дэвис, Умберто Терронес, Маурисио Терронес и др.] ; под ред. Дж. Дэвиса, М. Томпсона ; пер. с англ. А. Е. Грахова ; под ред. П. П. Мальцева by Дэвис, Джайлс | Терронес, Умберто | Терронес, Маурисио | Мальцев, Петр Павлович [edt] | Томпсон, Майкл [edt]. Series: Мир физики и техникиMaterial type: Text; Format:
print
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Language: Russian Original language: English Publication details: Москва Техносфера 2011Availability: No items available :
|
|
3.
|
|
|
4.
|
|
|
5.
|
S-диод с оптическим управлением А. А. Бахнарюк, М. С. Скакунов by Бахнарюк, А. А | Скакунов, Максим Сергеевич. Source: Физика твердого тела : сборник материалов XI Российской научной студенческой конференции, 13-15 мая 2008 г., Томск, РоссияMaterial type: Article; Format:
print
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Availability: No items available :
|
|
6.
|
|
|
7.
|
|
|
8.
|
|
|
9.
|
|
|
10.
|
|
|
11.
|
|
|
12.
|
Measuring device for design and quality inspection of thin films and multi-layered structures for microelectronics A. V. Panin, S. V. Panin, V. E. Panin by Panin, Alexey V | Panin, Sergey V, 1971- | Panin, Victor E, 1930-2020. Source: Tomsk Region and Taiwan: experience of scientific-technical and innovation cooperation. Vol. 1 : forum proceedings, 16-17 September, 2009, TomskMaterial type: Article; Format:
print
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Other title: Измерительные устройства для инспектирования качества и дизайна тонких пленок и много-слоевых структур, используемых в микроэлектронике.Availability: No items available :
|
|
13.
|
|
|
14.
|
|
|
15.
|
|