Refine your search
Availability
-
bib-level
-
Authors
- Akiyama, Eiji (1)
- Chumlyakov, Yuri I. (1)
- Kireeva, Irina V. (1)
- Koyama, Motomichi (1)
- Ogawa, Kazuyuki (1)
- Sawaguchi, Takahiro (1)
- Tsuzaki, Kaneaki (1)
- Баженов, Сергей Леонидович (2)
- Боровский, Игорь Борисович (1)
- Брандон, Дэвид (2)
- Гаранин, Виктор Константинович (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Каплан, У. (2)
- Кудрявцева, Галина Петровна (1)
- Морис, Ф. (1)
- Нан Яо (1)
- Новиков, Ю. А. (1)
- Сергеев, Алексей Георгиевич (3)
- Филибер, Ж. (1)
- Чжун Лин Ван (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Абонемент (1)
- Абонемент. Депозитарий (4)
- Библиотека РФФ (1)
- Книгохранилище (9)
- Факультетская библиотека (1)
- Читальный зал 5 (1)
- Show more
- Show less
-
Item types
- 1 месяц (3)
- 1 неделя (1)
- 6 месяцев (4)
- Выдается в читальный зал (9)
-
Topics
- Брэгга уравнение (2)
- Лауэ уравнение (2)
- Метрологическое обеспечение (2)
- Нанотехнологии (3)
- Оже-электроны (2)
- атомно-силовая микроскопия (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- дифракционный анализ (2)
- дифракция электронов (2)
- интерференционная микроскопия (2)
- интерференционные измерения (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- кристаллические решетки (2)
- кристаллические структуры (2)
- наноизмерения (4)
- нанометрология (3)
- оптическая микроскопия (3)
- сканирующая зондовая микроскопия (3)
- электронная микроскопия (5)
- электронные микроскопы растровые (5)
- Show more
- Show less