Normal view
MARC view
Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике Электронный ресурс А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова
Material type:
TextPublication details: Москва ДМК Пресс 2011Description: 1 онлайн-ресурс (687 с.)ISBN: 9785940746263Subject(s): измерительные приборы отечественные | измерительные приборы зарубежные | измерение полупроводниковых приборов | измерение интегральных микросхем | электрические сигналы тестовые | измерение параметров электрических сигналов | электрические токи сверхмалые | напряжение электрического поля сверхмалое | импеданс | иммитанс | электрические цепи | электрические измерения | радиоизмерения | измерительные приборы микроэлектроники | измерительные приборы нанотехнологииOnline resources: ЭБС Лань Доступ к полному тексту документа после регистрации пользователя на сайте http://e.lanbook.com/ в локальной сети ТГУ
No physical items for this record
Библиогр.: с. 679-687
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.