Refine your search
Availability
-
bib-level
- m (2)
-
Authors
- Сатдарова, Ф. Ф. (1)
- Фульц, Брент (1)
- Хау, Джеймс М. (1)
-
Locations
-
Item types
-
Topics
- TEM, просвечивающая электронная микроскопия (1)
- XRD, рентгеновская дифрактометрия (1)
- Гюйгенса принцип (1)
- Дифрактометрия (1)
- Лауэ дифракция (1)
- Паттерсона функции (1)
- Эвальда сфера (1)
- Электронная микроскопия просвечивающая (1)
- автоматизированная система исследований дислокационной структуры поликристаллов (1)
- автоматизированная система исследований кристаллографической текстуры (1)
- анизотропия кристаллов (1)
- атомные форм-факторы (1)
- гармонический анализ (1)
- детекторы рентгеновского излучения (1)
- динамическая теория дифракции (1)
- дислокации в поликристаллической системе (1)
- дислокационная структура кристаллов (1)
- дифрактометрия материалов (1)
- дифрактометры рентгеновские порошковые (1)
- дифракционные линии (2)
- Show more
- Show less