Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении [Роберт А. Шварцер, Дэйвид П. Филд, Брент Л. Эдамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]
Material type:
TextLanguage: Russian, English Original language: English Series: Мир физики и техникиPublication details: Москва Техносфера 2014Description: 559 с., [56] л. ил., цв. ил. ил., цв. ил. 25 смISBN: 9785948363851Subject(s): электроны | структура материалов | электронная микроскопия | дифракция отраженных электронов | ДОЭ-анализ | динамическое моделирование | микроструктуры трехмерные | зерна поликристаллов | ориентация кристаллов | функции распределения ориентаций | энергетическая фильтрация электронов | сферические картины дифракции | Кикучи карты дифракции | ДОЭ-анализ фазовый | идентификация фаз | кристаллические решетки, симметрия | трехмерная ориентационная микроскопия | срезы материалов | ДОЭ-карты трехмерные | цифровые микроструктуры | трехмерные реконструкции | пластические деформации | трехмерное моделирование | межзеренные границы кристаллов | картирование деформаций | деформационные структуры, анализOther classification: В372.144,0 | Ж304-1с341.2,0
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается по месту хранения | Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 | 620.22 М545 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000889167 |
Авт. указаны на 16-й с. и в содерж.
Библиогр. в конце ст.
Предм. указ.: с. 533-545
There are no comments on this title.