Refine your search
Availability
-
bib-level
- m (2)
-
Authors
-
Locations
- Абонемент. Депозитарий (2)
- Библиотека РФФ (1)
- Книгохранилище (1)
- Читальный зал 5 (1)
-
Item types
-
Topics
- Исследование (1)
- Метрология (2)
- Наноструктуры (1)
- Промышленная продукция (1)
- Сертификация (1)
- Сканирующая микроскопия зондовая (1)
- Стандартизация (1)
- калибровка в нанотехнологии (1)
- концепция нанометрологии (1)
- математическая обработка измерений (1)
- международная стандартизация (1)
- международные организации по сертификации (1)
- метрологическое обеспечение измерений (1)
- микроскопы зондовые атомно-силовые измерительные (1)
- наноизмерения (1)
- нанометровый диапазон (1)
- неопределенность наноизмерений (1)
- организационное обеспечение нанометрологии (1)
- поверка в нанотехнологии (1)
- погрешностей теория (1)
- Show more
- Show less