Normal view
MARC view
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках Отв. ред. А. А. Маненков
Material type:
TextSeries: Publication details: М. Наука 1986Description: 152,[1] с. ил. 24 смSubject(s): Полупроводники - Дефекты - Исследование | Диэлектрики - Дефекты - ИсследованиеOther classification: 29.19
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-622796к (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 13820000322829 |
Библиогр. в конце ст.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.