Refine your search
Availability
-
bib-level
- m (4)
-
Authors
-
Locations
-
Item types
-
Topics
- "Микрон", завод (Томск) (1)
- МОП- транзисторные структуры (1)
- МОП-транзисторы субмикронные (1)
- МОП-транзисторы субмикронные, дефекты (1)
- МОП-транзисторы субмикронные, надежность (1)
- МОП-транзисторы, масштабирование (1)
- МОП-транзисторы, физические процессы (1)
- Мура закон второй (1)
- Мура закон обобщенный (1)
- Мура закон первый (1)
- алюминиевые пленки (1)
- влияние технологических процессов (1)
- геттерирование (2)
- деградация подзатворного диэлектрика (1)
- дефекты структурно-примесные (1)
- дрейф ионов (2)
- интегральные схемы (2)
- кремниевые микросхемы (2)
- полупроводники (2)
- субмикронная технология (2)
- Show more
- Show less