Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

    • Your search returned 2 results.

    Sort
    Unhighlight Highlight
    Select all Clear all
    Select titles to:
    Results
    1.
    No cover image available
    Точечные дефекты в полупроводниках экспериментальные аспекты Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича

    by Бургуэн, Жак | Ланно, Мишель | Гуревич, В. Л [edt].

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Publication details: Москва Мир 1985Other title: Point Defects in Semiconductors.Availability: No items available :
    Place hold Log in to add tags Add to cart
    2.
    No cover image available
    Точечные дефекты в полупроводниках теория М. Ланно, Ж. Бургуэн ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича

    by Ланно, Мишель | Бургуэн, Жак | Гуревич, В. Л [edt].

    Material type: Text Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Language: Russian Original language: English Publication details: Москва Мир 1984Other title: Point defects in semiconductors J..Availability: No items available :
    Place hold Log in to add tags Add to cart
    Pages