TY  - BOOK
AU  - Фелдман,Леонард
AU  - Майер,Джеймс
AU  - Белошицкий,Владимир Васильевич
TI  - Основы анализа поверхности и тонких пленок
SN  - 5030010173
PY  - 1989///
CY  - М.
PB  - Мир
KW  - Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ
KW  - rurkp
KW  - Пленки тонкие - Ядерно-физический анализ
N1  - Библиогр. в конце глав; Предм. указ.: с. 333-336
ER  -