TY  - BOOK
AU  - Андерхальт,Роберт
AU  - Анзалоне,Поль
AU  - Апкариан,П.Роберт
AU  - Жу,Уэйли
AU  - Уанг,Жонг Лин
AU  - Каминская,Татьяна Петровна
TI  - Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: методы и применение
SN  - 9785996311101
PY  - 2016///
CY  - Москва
PB  - БИНОМ. Лаборатория знаний
KW  - растровая электронная микроскопия
KW  - растровые электронные микроскопы
KW  - получение изображений
KW  - нанотехнологии
KW  - наноматериалы
KW  - исследование наноструктур
KW  - дифракция отраженных электронов, метод
KW  - рентгеновский микроанализ
KW  - моделирование наноматериалов
KW  - Монте-Карло метод
KW  - растровая электронная микроскопия низковольтная
KW  - электронно-лучевая нанолитография
KW  - растровая электронная микроскопия просвечивающая
KW  - конструирование наноматериалов
KW  - наноманипулирование in situ
KW  - ионные пучки фокусированные
KW  - нанопроволоки полупроводниковые
KW  - нанотрубки полупроводниковые
KW  - фотонные кристаллы
KW  - наночастицы
KW  - самосборки коллоидные
KW  - полупроводники наноструктурные
KW  - 3D коллоидные кристаллы
KW  - наноблоки
KW  - наноструктуры одномерные
KW  - бионаноматериалы
KW  - наноструктурные исследования низкотемпературные
KW  - растровая электронная микроскопия низкотемпературная
N1  - Авт. указаны на с. 5-8; Библиогр. в конце глав; Предметный указ.: с. 574-582; Слов. наиболее часто использ. аббревиатур: с. 17-18
ER  -