TY  - BOOK
AU  - Алексеев,В.Я.
AU  - Алексеев,Ю.Е.
TI  - Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники
PY  - 1969///
CY  - Москва
PB  - [б. и.]
KW  - Микроэлектронные схемы - Контроль по тепловому излучению
KW  - RKP
KW  - Вычислительные машины электронные - Контроль
ER  -