TY  - BOOK
AU  - Новиков,Вадим Александрович
ED  - Томский государственный университет.
TI  - Исследование морфологии и электронных свойств поверхности пленок AIII BV и контактов металл/AIII BV методом атомно-силовой микроскопии: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.10
PY  - 2010///
CY  - Томск
PB  - [б. и.]
KW  - физика полупроводников
KW  - nsnr
KW  - авторефераты диссертаций
N1  - Библиогр.: с. 17-18; Получено от автора
UR  - http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000396199
ER  -