Normal view
MARC view
Основы анализа поверхности и тонких пленок Л. Фелдман, Д. Майер; Перевод с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева; Под ред. В. В. Белошицкого
Material type: TextPublication details: М. Мир 1989Description: 342 с. ил. 22 смISBN: 5030010173Subject(s): Поверхностные слои - Ядерно-физический анализ | Пленки тонкие - Ядерно-физический анализOther classification: 29.19Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
1 неделя | Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 | 539 Ф374 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 13820000284963 | ||
1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-724212 (Browse shelf(Opens below)) | 2 | Available | 13820000225525 |
Browsing Научная библиотека ТГУ shelves, Shelving location: Книгохранилище Close shelf browser (Hides shelf browser)
Библиогр. в конце глав
Предм. указ.: с. 333-336
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.