Normal view
MARC view
Емкостные свойства МДП-структур HgCdTe/SiO2-Si3N4 А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, Н. А. Кульчицкий
Material type: ArticleSubject(s): МДП-структуры | труды ученых ТГУ | вольт-фарадные характеристики | экспериментальные исследования | производство приборов | электронные системы In: Высокие технологии в промышленности России материалы и устройства функциональной электроники и микрофотоники : материалы X Международной научно-технической конференции Москва, ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2004, 9-11 сентября. Тонкие пленки в электронике : материалы XVI Международного симпозиума Москва, ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2004, 9-11 сентября С. 141-147No physical items for this record
Библиогр.: с. 147
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.