Normal view
MARC view
Определение дефектности приповерхностного слоя полупроводниковых гетероструктур на основе МЛЭ HgCdTe при измерении адмиттанса МДП-структур А. В. Войцеховский, С. Н. Несмелов, С. М. Дзядух и др.
Material type: ArticleSubject(s): молекулярно-лучевая эпитаксия | МДП-структуры | электрофизические исследования | дефекты | приповерхностные слои | полупроводниковые гетероструктуры | адмиттансGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Седьмая Международная конференция "Кристаллофизика и деформационное поведение перспективных материалов", посвященная памяти профессора С. С. Горелика ; Вторая Международная школа молодых ученых "Актуальные проблемы современного материаловедения", Москва, 2-5 октября 2017 г. : тезисы докладов С. 58No physical items for this record
Библиогр.: 2 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.