Normal view
MARC view
Исследование дефектообразования в эпитаксиальных слоях n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением В. Г. Средин, А. В. Войцеховский, О. Б. Ананьин [и др.]
Material type: ArticleOther title: The investigation of defect formation in epitaxial layers of n-CdxHg1-xTe by soft X-ray radiation [Parallel title]Subject(s): эпитаксиальные слои | мягкое рентгеновское излучение | дефектообразованиеGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: XXV Международная научно-техническая конференция и школа по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 24-26 мая 2018 г., Москва, Россия : труды конференции Т. 2 : Стендовые доклады. С. 392-394No physical items for this record
Библиогр.: 10 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.