Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Исследование дефектообразования в эпитаксиальных слоях n-CdxHg1-xTe мягким рентгеновским излучением В. Г. Средин, А. В. Войцеховский, О. Б. Ананьин [и др.]

Contributor(s): Войцеховский, Александр Васильевич | Ананьин, Олег Борисович | Мелехов, Андрей Петрович | Несмелов, Сергей Николаевич | Дзядух, Станислав Михайлович | Юрчак, Валерий Аркадьевич | Средин, Виктор ГеннадиевичMaterial type: ArticleArticleOther title: The investigation of defect formation in epitaxial layers of n-CdxHg1-xTe by soft X-ray radiation [Parallel title]Subject(s): эпитаксиальные слои | мягкое рентгеновское излучение | дефектообразованиеGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: XXV Международная научно-техническая конференция и школа по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 24-26 мая 2018 г., Москва, Россия : труды конференции Т. 2 : Стендовые доклады. С. 392-394
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 10 назв.

There are no comments on this title.

to post a comment.