Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Измерение компонент тензора удельной электропроводности анизотропных полупроводниковых пластин модифицированным методом Ван дер Пау В. В. Филиппов, А. А. Заворотний, В. П. Тигров

By: Филиппов, Владимир Владимирович физикContributor(s): Заворотний, Анатолий Анатольевич | Тигров, Вячеслав ПетровичMaterial type: ArticleArticleSubject(s): анизотропный полупроводник | удельная электропроводность | Ван дер Пау методGenre/Form: статьи в журналах Online resources: Click here to access online In: Известия высших учебных заведений. Физика Т. 62, № 1. С. 92-99Abstract: На основе решения краевых задач электродинамики предлагается оригинальная методика измерения контактным методом компонент тензора удельной электропроводности анизотропных полупроводниковых пластин квадратной формы. Омические токовые и измерительные контакты располагаются на периметре образца согласно наиболее часто используемым в практике схемам Ван дер Пау. Полученные выражения представлены в виде полиномиальных зависимостей от параметра анизотропии исследуемого образца. Проведена экспериментальная проверка на полупроводниковых монокристаллах CdSb и CdAs2.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 17 назв.

Ограниченный доступ

На основе решения краевых задач электродинамики предлагается оригинальная методика измерения контактным методом компонент тензора удельной электропроводности анизотропных полупроводниковых пластин квадратной формы. Омические токовые и измерительные контакты располагаются на периметре образца согласно наиболее часто используемым в практике схемам Ван дер Пау. Полученные выражения представлены в виде полиномиальных зависимостей от параметра анизотропии исследуемого образца. Проведена экспериментальная проверка на полупроводниковых монокристаллах CdSb и CdAs2.

There are no comments on this title.

to post a comment.