Normal view
MARC view
Разработка алгоритмов функционального тестирования ОЗУ ЭВМ А. С. Новиков, С. Г. Шаршунов
Material type: ArticleSubject(s): новые информационные технологии | компьютерная безопасность | диагностика ошибок | ОЗУ | функциональное тестирование | ЭВМ In: Доклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г. С. 292-296No physical items for this record
Библиогр.: 3 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.