Normal view
MARC view
Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники В. Я. Алексеев, Ю. Е. Алексеев ; Ин-т точной механики и вычислит. техники АН СССР
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Москва [б. и.] 1969Description: 41 с. черт. 22 смSubject(s): Микроэлектронные схемы - Контроль по тепловому излучению | Вычислительные машины электронные - Контроль
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-062401 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000878861 |
Browsing Научная библиотека ТГУ shelves, Shelving location: Книгохранилище Close shelf browser (Hides shelf browser)
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.