Normal view
MARC view
Влияние параметров квантовых точек на характеристики системы материалов Si/Ge Н. А. Торопов, А. М. Турапин
Material type: ArticleSubject(s): полупроводниковые структуры | деформация | эпитаксиальные пленки | кристаллические решетки | сканирующая зондовая микроскопия | наногетероструктуры In: Физика : материалы XLVIII международной научной студенческой конференции "Студент и научно-технический прогресс", 10-14 апреля 2010 г С. 220No physical items for this record
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.