Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Рентгенотопографические исследования дислокационной структуры эпитаксиальных слоев GeSi, выращенных на вицинальных подложках Si (001) А. Ю. Красотин, А. В. Колесников, Е. М. Труханов и др.

Contributor(s): Красотин, А. Ю | Колесников, Алексей Викторович | Труханов, Евгений МихайловичMaterial type: ArticleArticleSubject(s): физика полупроводников | физика диэлектриков | эпитаксиальные слои | рентгенотопографические исследования | дислокации несоответствия In: Физика твердого тела : сборник материалов X Российской научной студенческой конференции, 4-6 мая 2006 г., Томск, Россия С. 199-202
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 8 назв.

There are no comments on this title.

to post a comment.