Normal view
MARC view
Метод измерения отражающих свойств поверхности космических рефлекторов и их программно-апаратная коррекция А. С. Мироньчев, А. В. Клоков, С. Э. Шипилов, В. П. Якубов
Material type: ArticleSubject(s): взаимодействие радиоволн | неоднородные среды | труды ученых ТГУ | отражающие поверхности | космические рефлекторы In: Актуальные проблемы радиофизики : труды Международной молодежной научной школы, Томск, 9-12 октября 2014 г С. 25-28No physical items for this record
Библиогр.: 2 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.