Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view
  • Ниязова, Озод Рахимовна

Entry Имя лица

Number of records used in: 2

001 - Контрольный номер

  • Контрольный номер: 178070

003 - Идентификатор контрольного номера

  • Контрольное поле: RU-ToGU

005 - Дата и время последней транзакции

  • Контрольное поле: 20210403000350.0

008 - Элементы данных фиксированной длины

  • Контрольное поле фиксированной длины: 210403|| aca||aabn | a|a d

040 ## - Источник каталогизации

  • Служба первичной каталогизации: RU-ToGU
  • Служба перезаписи или преобразования: RU-ToGU

100 ## - Заголовок – имя лица

  • Имя лица: Ниязова, Озод Рахимовна

670 ## - Источник, в котором найдены данные

  • Ссылка на источник: Work cat.: (RU-ToGU): Вавилов, Виктор Сергеевич. 178067, Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках, 1981