Normal view
MARC view
Микроскопические методы исследования материалов (Record no. 991710)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02943nam a2200301 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | koha000991710 |
| 006 - Дополнительные элементы данных фиксированной длины | |
| Контрольное поле постоянной длины | m o |
| 007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
| Контрольное поле постоянной длины | cr |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 230126d2007 RU s 00 0 rus |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | koha000991710 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU |
| Организация, изменившая запись | Ru-ToGu |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 620 |
| 084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
| Индекс другой классификации/Индекс ББК | 30 |
| Источник индекса | rubbk |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Кларк, Э. Р. |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Микроскопические методы исследования материалов |
| Продолж. заглавия | монография |
| Ответственность | Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Техносфера |
| Дата издания | 2007 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 376 с. |
| 500 ## - Примечания | |
| Примечание | Книга находится в премиум-версии IPR SMART. |
| 520 ## - Аннотация | |
| Аннотация | За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | микроскопические методы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | исследование материалов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | компьютерная микроскопия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | монография |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Эберхард, К. Н. |
| 856 4# - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="https://www.iprbookshop.ru/12728.html">https://www.iprbookshop.ru/12728.html</a> |
| Справочный текст | ЭБС IPR BOOKS |
| 910 ## - Внешние ресурсы | |
| Внешние ресурсы | IPR Books |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 991710 |
No items available.