Normal view
MARC view
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей (Record no. 889574)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 03173nam a2200301 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | koha000889574 |
| 006 - Дополнительные элементы данных фиксированной длины | |
| Контрольное поле постоянной длины | m o |
| 007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
| Контрольное поле постоянной длины | cr |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 211005d2021 RU s 00 0 rus |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | koha000889574 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU |
| Организация, изменившая запись | Ru-ToGu |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 22.34я73 |
| 084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
| Индекс другой классификации/Индекс ББК | 681.723.2 |
| Источник индекса | rubbk |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Егорова, О. В. |
| 9 (RLIN) | 526004 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей |
| Физический носитель | Электронный ресурс |
| Ответственность | Егорова О. В. |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Санкт-Петербург |
| Издательство | Лань |
| Дата издания | 2021 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 524 с. |
| 520 ## - Аннотация | |
| Аннотация | За последнее время произошли изменения не только в номенклатуре световых микроскопов, но появились и новые направления и виды приборов для технических целей. По-прежнему остаются важными вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем, а так же с их тестированием с помощью микроскопических методов исследования. В книге рассмотрены вопросы применения и классификации технических микроскопов, в том числе внимание уделено приборам для микроэлектроники. Представлена методика подбора оптики микроскопов и выбор методов контрастирования для решения задач исследования в различных направлениях. Рассмотрены вопросы стандартизации, методы контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Предложены приёмы настройки основных групп микроскопов. Книга предназначена для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавриата Материаловедение и технологии материалов, Нанотехнологии и микросистемная техника, Биология, специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, разработчиков оптических систем, сервисных инженеров, менеджеров и маркетологов. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | микроскоп |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | микроэлектроника |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптические системы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптика |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | световой микроскоп |
| 856 4# - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="https://e.lanbook.com/book/180819">https://e.lanbook.com/book/180819</a> |
| Справочный текст | ЭБС Лань |
| 856 41 - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="https://e.lanbook.com/img/cover/book/180819.jpg">https://e.lanbook.com/img/cover/book/180819.jpg</a> |
| Справочный текст | ЭБС Лань |
| 910 ## - Внешние ресурсы | |
| Внешние ресурсы | ЭБС Лань |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 889574 |
No items available.