Normal view
MARC view
Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения (Record no. 724099)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02891nam a2200505 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | koha000724099 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 211224s2020 ru 000 0 rus d |
020 ## - Индекс ISBN | |
Индекс ISBN | 9785996306336 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | koha000724099 |
039 ## - История создания и изменения записи | |
Создание записи | 19 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 621.382.049.77-022.532:538.971(15) |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 621.315.592-022.532:538.971(15) |
100 1# - Автор | |
Ф.И.О. | Таперо, Константин Иванович |
9 (RLIN) | 767226 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения |
Продолж. заглавия | [монография] |
Ответственность | К. И. Таперо, В. Н. Улимов, А. М. Членов |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Москва |
Издательство | БИНОМ. Лаборатория знаний |
Дата издания | 2020 |
9 (RLIN) | 703383 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 304 с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил., табл. |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | Текст |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | непосредственный |
504 ## - Библиография, указатели | |
Библиография, указатели | Библиогр.: с. 289-297 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | интегральные схемы кремниевые |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ионизирующее излучение космическое |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | радиационные эффекты |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | воздействие проникающей радиации на полупроводниковые приборы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | воздействие проникающей радиации на интегральные схемы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | воздействие проникающей радиации на материалы электронной техники |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | радиация проникающая, применение |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | полупроводниковые приборы, деградация |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ионизирующее излучение космическое |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | взаимодействие ионизирующих излучений с полупроводниками |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноразмерные дефекты, образование |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | радиационные испытания полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | микроэлектроника |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноэлектроника |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электрофизические параметры полупроводников, изменение |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | приборные структуры биполярные, деградация |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | МОП-структуры |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | КМОП-структуры |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | большие интегральные микросхемы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | радиационные испытания |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | диоксид кремния, строение |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Улимов, Виктор Николаевич |
9 (RLIN) | 767227 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Членов, Александр Михайлович |
9 (RLIN) | 767228 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Код страны | ru |
Полочный индекс | 621.3 |
Авторский знак | Т189 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Расстановочный шифр | Штрих-код | Дата последнего просмотра | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Читальный зал 5 | 24/12/2021 | 486.00 | 621.3 Т189 | 13820001030467 | 24/12/2021 | Выдается по месту хранения |