Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения (Record no. 724099)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02891nam a2200505 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле koha000724099
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 211224s2020 ru 000 0 rus d
020 ## - Индекс ISBN
Индекс ISBN 9785996306336
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер koha000724099
039 ## - История создания и изменения записи
Создание записи 19
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 621.382.049.77-022.532:538.971(15)
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 621.315.592-022.532:538.971(15)
100 1# - Автор
Ф.И.О. Таперо, Константин Иванович
9 (RLIN) 767226
245 10 - Заглавие
Заглавие Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения
Продолж. заглавия [монография]
Ответственность К. И. Таперо, В. Н. Улимов, А. М. Членов
260 ## - Выходные данные
Место издания Москва
Издательство БИНОМ. Лаборатория знаний
Дата издания 2020
9 (RLIN) 703383
300 ## - Физическое описание
Объем 304 с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил., табл.
336 ## - Тип содержимого
Тип содержимого Текст
337 ## - Средство доступа
Средство доступа непосредственный
504 ## - Библиография, указатели
Библиография, указатели Библиогр.: с. 289-297
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова интегральные схемы кремниевые
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ионизирующее излучение космическое
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные эффекты
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова воздействие проникающей радиации на полупроводниковые приборы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова воздействие проникающей радиации на интегральные схемы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова воздействие проникающей радиации на материалы электронной техники
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиация проникающая, применение
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова полупроводниковые приборы, деградация
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ионизирующее излучение космическое
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова взаимодействие ионизирующих излучений с полупроводниками
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноразмерные дефекты, образование
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные испытания полупроводников
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова микроэлектроника
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноэлектроника
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электрофизические параметры полупроводников, изменение
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова приборные структуры биполярные, деградация
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова МОП-структуры
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова КМОП-структуры
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова большие интегральные микросхемы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова радиационные испытания
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова диоксид кремния, строение
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Улимов, Виктор Николаевич
9 (RLIN) 767227
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Членов, Александр Михайлович
9 (RLIN) 767228
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Код страны ru
Полочный индекс 621.3
Авторский знак Т189
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Расстановочный шифр Штрих-код Дата последнего просмотра Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 24/12/2021 486.00 621.3 Т189 13820001030467 24/12/2021 Выдается по месту хранения