Normal view
MARC view
Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристалах на основе эффекта Бормана (Record no. 508971)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02517nam a2200481 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000231806 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20220620103729.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 070613s2006 ru a f b 000 0 rus d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 5898963030 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000231806 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 548.734:548.4 |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 548.4:621.515.5 |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Данильчук, Леонид Нестерович. |
| 9 (RLIN) | 281442 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Рентгеновская дифракционная топография дефектов в кристалах на основе эффекта Бормана |
| Ответственность | Л. Н. Данильчук, А. О. Окунев, В. А. Ткаль ; Новгородский гос. ун-т им. Ярослава Мудрого |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Великий <br/>Новгород |
| Издательство | [б. и.] |
| Дата издания | 2006 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 493 с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр.: с. 464-493 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Бормана эффект |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгенотопографические изображения |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты кристаллов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты монокристаллов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | цифровая обработка изображений |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | поляризационно-оптические изображения |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | аппаратно-программное обеспечение |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | фильтрация изображений |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | вейвлет-анализ |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | макрополя деформаций |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | микродефекты кристаллов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | монокристаллы полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дислокационные структуры |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты упаковки в монокристаллах |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | эпитаксиальные слои германия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | эпитаксиальные слои кремния |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | эпитаксиальный рост кристаллов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | производство интегральных микросхем |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | производство полупроводниковых приборов |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Окунев, Алексей Олегович. |
| 9 (RLIN) | 116058 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Ткаль, Валерий Алексеевич. |
| 9 (RLIN) | 281443 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 508971 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 100.00 | 1-955532к | 13820000587389 | Выдается в читальный зал |