Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Плотность электронных состояний и степень направленности межатомных связей в соединениях Ni3X (X=AL, Ga, Si, Ge) (Record no. 425538)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01084naa a2200241 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000581179
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210405093121.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 170831s2001 ru a f 000 0 rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000581179
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
100 1# - Автор
Автор Ершов, Е. В.
9 (RLIN) 293193
245 10 - Заглавие
Заглавие Плотность электронных состояний и степень направленности межатомных связей в соединениях Ni3X (X=AL, Ga, Si, Ge)
Ответственность Е. В. Ершов
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 3 назв.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова физика металлов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова плотность электронных состояний
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова труды ученых ТГУ
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова межатомные связи
773 0# - Источник информации
Название источника Современные проблемы физики и технологии : (сборник статей молодых ученых)
Место и дата издания Томск, 2001
Прочая информация С. 24-27
ISBN 5751114310
Контрольный № источника 0163-67660
852 ## - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 425538

No items available.