Normal view
MARC view
Плотность электронных состояний и степень направленности межатомных связей в соединениях Ni3X (X=AL, Ga, Si, Ge) (Record no. 425538)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 01084naa a2200241 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000581179 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210405093121.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 170831s2001 ru a f 000 0 rus d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000581179 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
100 1# - Автор | |
Автор | Ершов, Е. В. |
9 (RLIN) | 293193 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Плотность электронных состояний и степень направленности межатомных связей в соединениях Ni3X (X=AL, Ga, Si, Ge) |
Ответственность | Е. В. Ершов |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: 3 назв. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика металлов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | плотность электронных состояний |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | труды ученых ТГУ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | межатомные связи |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Современные проблемы физики и технологии : (сборник статей молодых ученых) |
Место и дата издания | Томск, 2001 |
Прочая информация | С. 24-27 |
ISBN | 5751114310 |
Контрольный № источника | 0163-67660 |
852 ## - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | статья |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 425538 |
No items available.