Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Scanning Probe Microscopy (Record no. 416774)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03395nam a22005055i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000561618
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210922090710.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr nn 008mamaa
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 170213s2015 gw | s |||| 0|eng d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9783662452400
-- 978-3-662-45240-0
024 7# - Прочие стандартные номера
Стандартный номер 10.1007/978-3-662-45240-0
Источник номера doi
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000561618
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. Springer
Служба, преобразующая запись Springer
Организация, изменившая запись RU-ToGU
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс T174.7
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса
Классификационный индекс TA418.9.N35
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TBN
Источник кода bicssc
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории TEC027000
Источник кода bisacsh
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории SCI050000
Источник кода bisacsh
082 04 - Индекс Дьюи
Индекс Дьюи 620.115
Номер издания 23
100 1# - Автор
Автор Voigtländer, Bert.
Роль лиц author.
9 (RLIN) 344347
245 10 - Заглавие
Заглавие Scanning Probe Microscopy
Физический носитель electronic resource
Продолж. заглавия Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy /
Ответственность by Bert Voigtländer.
260 ## - Выходные данные
Место издания Berlin, Heidelberg :
Издательство Springer Berlin Heidelberg :
-- Imprint: Springer,
Дата издания 2015.
300 ## - Физическое описание
Объем XV, 382 p. 189 illus., 148 illus. in color.
Иллюстрации/тип воспроизводства online resource.
336 ## - Тип содержимого
Тип содержимого text
Content type code txt
Source rdacontent
337 ## - Средство доступа
Средство доступа computer
Media type code c
Source rdamedia
338 ## - Тип носителя
Тип носителя online resource
Carrier type code cr
Source rdacarrier
490 1# - Серия
Заглавие серии NanoScience and Technology,
ISSN серии 1434-4904
505 0# - Примечание о содержании
Содержание Introduction -- Harmonic Oscillator -- Technical Aspects of Scanning Probe Microscopy -- Scanning Probe Microscopy Designs -- Electronics for Scanning Probe Microscopy -- Lock-In Technique -- Data Representation and Image Processing -- Artifacts in SPM -- Work Function, Contact Potential, and Kelvin Probe Scanning Force Microscopy -- Surface States -- Forces Between Tip and Sample -- Technical Aspects of Atomic force Microscopy (AFM) -- Static Atomic Force Microscopy -- Amplitude Modulation (AM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Intermittent Contact Mode/Tapping Mode -- Mapping of Mechanical Properties Using Force-Distance Curves -- Frequency Modulation (FM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Noise in Atomic Force Microscopy -- Quartz Sensors in Atomic force Microscopy -- Scanning Tunneling Microscopy -- Scanning Tunneling Spectroscopy (STS) -- Vibrational Spectroscopy with the STM -- Spectroscopy and Imaging of Surface States -- Building Nanostructures Atom by Atom.
520 ## - Аннотация
Аннотация This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика Materials Science.
9 (RLIN) 143944
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика Condensed matter.
9 (RLIN) 566291
650 #0 - Тематические рубрики
Основная рубрика Nanotechnology.
9 (RLIN) 566290
650 14 - Тематические рубрики
Основная рубрика Materials Science.
9 (RLIN) 143944
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Nanotechnology.
9 (RLIN) 566290
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Nanotechnology and Microengineering.
9 (RLIN) 410445
650 24 - Тематические рубрики
Основная рубрика Condensed Matter Physics.
9 (RLIN) 410439
710 2# - Другие организации
Организация/юрисдикция SpringerLink (Online service)
9 (RLIN) 143950
773 0# - Источник информации
Название источника Springer eBooks
830 #0 - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие
Унифицированное заглавие NanoScience and Technology,
9 (RLIN) 312189
856 40 - Электронный адрес документа
URL <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0</a>
912 ## - Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ
Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ ZDB-2-CMS
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 416774

No items available.