Normal view
MARC view
Scanning Probe Microscopy (Record no. 416774)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 03395nam a22005055i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000561618 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210922090710.0 |
007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
Контрольное поле постоянной длины | cr nn 008mamaa |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 170213s2015 gw | s |||| 0|eng d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 9783662452400 |
-- | 978-3-662-45240-0 |
024 7# - Прочие стандартные номера | |
Стандартный номер | 10.1007/978-3-662-45240-0 |
Источник номера | doi |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000561618 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | Springer |
Служба, преобразующая запись | Springer |
Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | T174.7 |
050 #4 - Расстановочный код библ. Конгресса | |
Классификационный индекс | TA418.9.N35 |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TBN |
Источник кода | bicssc |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | TEC027000 |
Источник кода | bisacsh |
072 #7 - Код предметной/темат. категории | |
Код предметной/темат. категории | SCI050000 |
Источник кода | bisacsh |
082 04 - Индекс Дьюи | |
Индекс Дьюи | 620.115 |
Номер издания | 23 |
100 1# - Автор | |
Автор | Voigtländer, Bert. |
Роль лиц | author. |
9 (RLIN) | 344347 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Scanning Probe Microscopy |
Физический носитель | electronic resource |
Продолж. заглавия | Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / |
Ответственность | by Bert Voigtländer. |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Berlin, Heidelberg : |
Издательство | Springer Berlin Heidelberg : |
-- | Imprint: Springer, |
Дата издания | 2015. |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | XV, 382 p. 189 illus., 148 illus. in color. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | online resource. |
336 ## - Тип содержимого | |
Тип содержимого | text |
Content type code | txt |
Source | rdacontent |
337 ## - Средство доступа | |
Средство доступа | computer |
Media type code | c |
Source | rdamedia |
338 ## - Тип носителя | |
Тип носителя | online resource |
Carrier type code | cr |
Source | rdacarrier |
490 1# - Серия | |
Заглавие серии | NanoScience and Technology, |
ISSN серии | 1434-4904 |
505 0# - Примечание о содержании | |
Содержание | Introduction -- Harmonic Oscillator -- Technical Aspects of Scanning Probe Microscopy -- Scanning Probe Microscopy Designs -- Electronics for Scanning Probe Microscopy -- Lock-In Technique -- Data Representation and Image Processing -- Artifacts in SPM -- Work Function, Contact Potential, and Kelvin Probe Scanning Force Microscopy -- Surface States -- Forces Between Tip and Sample -- Technical Aspects of Atomic force Microscopy (AFM) -- Static Atomic Force Microscopy -- Amplitude Modulation (AM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Intermittent Contact Mode/Tapping Mode -- Mapping of Mechanical Properties Using Force-Distance Curves -- Frequency Modulation (FM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Noise in Atomic Force Microscopy -- Quartz Sensors in Atomic force Microscopy -- Scanning Tunneling Microscopy -- Scanning Tunneling Spectroscopy (STS) -- Vibrational Spectroscopy with the STM -- Spectroscopy and Imaging of Surface States -- Building Nanostructures Atom by Atom. |
520 ## - Аннотация | |
Аннотация | This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field. |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Materials Science. |
9 (RLIN) | 143944 |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Condensed matter. |
9 (RLIN) | 566291 |
650 #0 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Nanotechnology. |
9 (RLIN) | 566290 |
650 14 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Materials Science. |
9 (RLIN) | 143944 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Nanotechnology. |
9 (RLIN) | 566290 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Nanotechnology and Microengineering. |
9 (RLIN) | 410445 |
650 24 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Condensed Matter Physics. |
9 (RLIN) | 410439 |
710 2# - Другие организации | |
Организация/юрисдикция | SpringerLink (Online service) |
9 (RLIN) | 143950 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Springer eBooks |
830 #0 - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
Унифицированное заглавие | NanoScience and Technology, |
9 (RLIN) | 312189 |
856 40 - Электронный адрес документа | |
URL | <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0">http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0</a> |
912 ## - Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ | |
Coursera for Campus: онлайн курсы для ТГУ | ZDB-2-CMS |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 416774 |
No items available.