Normal view
MARC view
Фундаментальные основы анализа нанопленок (Record no. 361148)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 04723cam a2200829 i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000490268 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20230119103639.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 141013s2012 ru a f b 000 0 rus|d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 9785915222259 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | 005572893 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RuMoRKP |
Код языка каталог. | rus |
Правила каталог. | rcr |
Организация, изменившая запись | RuMoRGB |
-- | RU-ToGU |
041 1# - Код языка издания | |
Код языка текста | rus |
Код языка оригинала | eng |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 538.975-022.532:538.971 |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 539.216.2-022.532:538.971 |
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
Индекс другой классификации/Индекс ББК | В372.1-6,07 |
Источник индекса | rubbk |
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
Индекс другой классификации/Индекс ББК | Ж36-1с3,07 |
Источник индекса | rubbk |
100 1# - Автор | |
Автор | Альфорд, Терри Л. |
9 (RLIN) | 96544 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Фундаментальные основы анализа нанопленок |
Ответственность | Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. рус. изд. А. Н. Образцов ; Московский гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образовательный центр по нанотехнологиям |
246 11 - Заглавие тома/части | |
Заглавие тома/части | Fundamentals of nanoscale film analysis |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Москва |
Издательство | Научный мир |
Дата издания | 2012 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 390 с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
Размеры | 25 см |
490 1# - Серия | |
Заглавие серии | Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр. в конце гл. |
650 #7 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Тонкие пленки |
Основная подрубрика | Структура |
Источник рубрики | nlr_sh1 |
9 (RLIN) | 419416 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | нанопленки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | структурный анализ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноповерхности |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхности наноматериалов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноматериалы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | кристаллические решетки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | атомные столкновения |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | обратное рассеяние |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | спектрометрия обратного рассеяния |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | взаимодействие излучения с веществом |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | взаимодействие частиц с веществом |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ионная имплантация |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронные пучки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | лазерное излучение |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | радиационно-стимулированные поверхности тонких пленок |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | лазерно-стимулированные поверхности тонких пленок |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | модификация тонких пленок |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ионная бомбардировка |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | мас-спектроскопия ионов вторичных |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | каналирование ионов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | примеси в кристаллической решетке |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поверхностное взаимодействие в двухатомной модели |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | эпитаксиальный рост пленок |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электрон-электронные взаимодействия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронная микроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | плазмоны |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | тормозное излучение |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | дифракция рентгеновских лучей |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | тонкие пленки поликристаллические |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | дифракция электронов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | поглощение фотонов в твердых телах |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | излучательные переходы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронный микроанализ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | безызлучательные переходы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | Оже-электронная спектроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ядерные методики анализа |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | сканирующая зондовая микроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | аналитические технологии нанопленок |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Фельдман, Леонард К. |
9 (RLIN) | 419417 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Майер, Джеймс В. |
Дата | 1930- |
9 (RLIN) | 419418 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Образцов, А. Н. |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 419419 |
830 #0 - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
Унифицированное заглавие | Фундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники |
9 (RLIN) | 283410 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Полочный индекс | 538.9 |
Авторский знак | А593 |
Код страны | ru |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 361148 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Читальный зал 5 | 04/04/2021 | 693.88 | 538.9 А593 | 13820000880428 | Выдается по месту хранения | ||||
Научная библиотека ТГУ | Читальный зал 5 | 04/04/2021 | 693.88 | 538.9 А593 | 13820000880429 | 1 неделя |