Normal view
MARC view
Исследование фотоэлектрических свойств эпитаксиальных пленок КРТ, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии (Record no. 262106)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 01449naa a2200277 i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000380324 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20211202144750.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 100203s2002 ru f 100 0 rus d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000380324 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 539.2 |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 538.97 |
100 1# - Автор | |
Автор | Ходкевич, Д. В. |
9 (RLIN) | 347542 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Исследование фотоэлектрических свойств эпитаксиальных пленок КРТ, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии |
Ответственность | Д. В. Ходкевич, М. Ф. Филатов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика диэлектриков |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | молекулярно-лучевая эпитаксия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | эпитаксиальные пленки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | фотоэлектрические свойства |
700 ## - Другие авторы | |
Другие авторы | Филатов, Михаил Федорович |
9 (RLIN) | 497538 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Физика твердого тела : материалы VIII Российской научной студенческой конференции, 14-16 мая 2002 г. |
Место и дата издания | Томск, 2002 |
Прочая информация | С. 99 |
Контрольный № источника | 0204-47860 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | Ru-ToGU |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | статья |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 262106 |
No items available.