Normal view
MARC view
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization (Record no. 231257)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01437nmm a22003735u 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000354754 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210922022958.0 |
| 007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
| Контрольное поле постоянной длины | cr nn 008mamaa |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 120828s2005 xx j eng d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 9780387256245 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000354754 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | Springer |
| Служба, преобразующая запись | Springer |
| Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Larsson, Erik. |
| 9 (RLIN) | 311744 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization |
| Физический носитель | Электронный ресурс |
| Ответственность | by Erik Larsson. |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Boston, MA : |
| Издательство | Springer, |
| Дата издания | 2005. |
| 490 10 - Серия | |
| Заглавие серии | Frontiers in Electronic Testing, |
| ISSN серии | 0929-1296 ; |
| № тома | 29 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Computer engineering |
| 9 (RLIN) | 303142 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | electronics |
| 9 (RLIN) | 303071 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | engineering |
| 9 (RLIN) | 224332 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Engineering design |
| 9 (RLIN) | 566293 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Optical materials |
| 9 (RLIN) | 303073 |
| 650 14 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Engineering |
| 9 (RLIN) | 224332 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Electronic and Computer Engineering |
| 9 (RLIN) | 303147 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Electronics and Microelectronics, Instrumentation |
| 9 (RLIN) | 303076 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Engineering Design |
| 9 (RLIN) | 566296 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Optical and Electronic Materials |
| 9 (RLIN) | 303078 |
| 710 2# - Другие организации | |
| Организация/юрисдикция | SpringerLink (Online service) |
| 9 (RLIN) | 143950 |
| 773 0# - Источник информации | |
| Название источника | Springer e-books |
| 830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
| Унифицированное заглавие | Frontiers in Electronic Testing, |
| 9 (RLIN) | 303485 |
| 856 40 - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="http://dx.doi.org/10.1007/b135763">http://dx.doi.org/10.1007/b135763</a> |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 231257 |
No items available.