Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста (Record no. 219296)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01236nam a2200229 i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000342313
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210922015841.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 090205s2009 ru a f bm 000 0 rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000342313
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
072 #7 - Код предметной/темат. категории
Код предметной/темат. категории 01.04.01
Источник кода nsnr
100 1# - Автор
Автор Окунев, Алексей Олегович
9 (RLIN) 116058
245 10 - Заглавие
Заглавие Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
Продолж. заглавия автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук : 01.04.01
260 ## - Выходные данные
Место издания Ижевск
Издательство [б. и.]
Дата издания 2009
300 ## - Физическое описание
Объем 46 с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: с. 43-46
650 #7 - Тематические рубрики
Основная рубрика приборы и методы экспериментальной физики
Источник рубрики nsnr
9 (RLIN) 193545
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова авторефераты диссертаций
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Код страны ru
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 219296
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 04/04/2021 80.00   1-973764к 13820000679538 Выдается в читальный зал