Normal view
MARC view
Масс-спектрометрический метод определения следов (Record no. 141055)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 01967nam a2200433 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000138035 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20230120040705.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 020518s1975 ru a b 001 0 rus d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | 0141-83160 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
Правила каталог. | PSBO |
041 1# - Код языка издания | |
Код языка текста | rus |
Код языка оригинала | eng |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 543.51.064 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Масс-спектрометрический метод определения следов |
Ответственность | А. Ахерн, Д. Францен, Р. Герцог и др. ; Пер. с англ. : Л. Ф. Грушко и Г. И. Рамендика; Под ред. М. С. Чупахина |
246 11 - Заглавие тома/части | |
Заглавие тома/части | Trase analysis by mass spectrometry |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 543, [3] с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
500 ## - Примечания | |
Примечание | В содерж. авт.: А. Ахерн, Д. Францен, Р. Герцог и др. |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр. в конце разделов |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Предм. указ.: с. 445-447 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | масс-спектрометрия искровая. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | твердые вещества. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электрические разряды. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ионные токи. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | элементный анализ. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | микропримеси. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | пленки тонкие полупроводниковые. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | пленки тонкие металлические. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | примеси. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | тонкие пленки. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | масс-спектрометры. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика электрического разряда. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | сверхчистые материалы. |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Чупахин, Михаил Сергеевич. |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 223672 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Ахерн, А. |
9 (RLIN) | 223673 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Францен, Д. |
9 (RLIN) | 223674 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Герцог, Р. |
9 (RLIN) | 223675 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Полочный индекс | 543 |
Авторский знак | М321 |
Код страны | ru |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 141055 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра | Номер копии |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 3.16 | 1-202118к | 13820000927344 | Выдается в читальный зал | |||||
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 3.16 | 1-210414 | 13820000926982 | 1 месяц | |||||
Научная библиотека ТГУ | Абонемент. Депозитарий | 03/04/2021 | 3.16 | 543 М321 | 13820000355100 | 6 месяцев | 1 | ||||
Научная библиотека ТГУ | Абонемент. Депозитарий | 03/04/2021 | 10.00 | 543 М321 | 13820000453095 | 6 месяцев | 2 |