Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Масс-спектрометрический метод определения следов (Record no. 141055)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01967nam a2200433 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000138035
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20230120040705.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 020518s1975 ru a b 001 0 rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер 0141-83160
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
Правила каталог. PSBO
041 1# - Код языка издания
Код языка текста rus
Код языка оригинала eng
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 543.51.064
245 10 - Заглавие
Заглавие Масс-спектрометрический метод определения следов
Ответственность А. Ахерн, Д. Францен, Р. Герцог и др. ; Пер. с англ. : Л. Ф. Грушко и Г. И. Рамендика; Под ред. М. С. Чупахина
246 11 - Заглавие тома/части
Заглавие тома/части Trase analysis by mass spectrometry
300 ## - Физическое описание
Объем 543, [3] с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
500 ## - Примечания
Примечание В содерж. авт.: А. Ахерн, Д. Францен, Р. Герцог и др.
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр. в конце разделов
504 ## - Библиография
Библиография Предм. указ.: с. 445-447
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова масс-спектрометрия искровая.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова твердые вещества.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электрические разряды.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ионные токи.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова элементный анализ.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова микропримеси.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова пленки тонкие полупроводниковые.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова пленки тонкие металлические.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова примеси.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова тонкие пленки.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова масс-спектрометры.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова физика электрического разряда.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова сверхчистые материалы.
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Чупахин, Михаил Сергеевич.
Код отношения edt
9 (RLIN) 223672
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Ахерн, А.
9 (RLIN) 223673
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Францен, Д.
9 (RLIN) 223674
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Герцог, Р.
9 (RLIN) 223675
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 543
Авторский знак М321
Код страны ru
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 141055
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра Номер копии
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 03/04/2021 3.16   1-202118к 13820000927344 Выдается в читальный зал  
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 03/04/2021 3.16   1-210414 13820000926982 1 месяц  
      Научная библиотека ТГУ Абонемент. Депозитарий 03/04/2021 3.16   543 М321 13820000355100 6 месяцев 1
      Научная библиотека ТГУ Абонемент. Депозитарий 03/04/2021 10.00   543 М321 13820000453095 6 месяцев 2