Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Структурные дефекты в эпитаксиальных слоях полупроводников (Record no. 139173)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01035nam a2200229 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000139915
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210921223732.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 950720s1985 __ 00| | rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер 0143-76060
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер (RU-ToGU)ru86-001409
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RKP
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
Организация, изменившая запись RU-ToGU
Правила каталог. PSBO
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 537.311.322:548.4
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК 29.19
Источник индекса rugasnti
100 1# - Автор
Автор Мильвидский, Михаил Григорьевич.
9 (RLIN) 221844
245 10 - Заглавие
Заглавие Структурные дефекты в эпитаксиальных слоях полупроводников
Ответственность М. Г. Мильвидский, В. Б. Освенский
260 ## - Выходные данные
Место издания М.
Издательство Металлургия
Дата издания 1985
300 ## - Физическое описание
Объем 159 с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
Размеры 21 см
650 #7 - Тематические рубрики
Основная рубрика Полупроводники - Дефекты.
Источник рубрики rurkp
9 (RLIN) 178068
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Освенский, Владимир Борисович.
9 (RLIN) 221845
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 139173
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Номер копии Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 03/04/2021 1.80   1-593061к 13820000350378 1 Выдается в читальный зал