Normal view
MARC view
Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (Record no. 109780)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01878nam a2200301 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000419527 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210921213418.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 120120s1975 ru a b 000 0 rus d |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000419527 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 621.315.592.08(075.8) |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Павлов, Лев Павлович. |
| 9 (RLIN) | 198760 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Методы определения основных параметров полупроводниковых материалов |
| Продолж. заглавия | [учебное пособие для вузов по специальности "Полупроводниковые приборы"] |
| Ответственность | Л. П. Павлов |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Высшая школа |
| Дата издания | 1975 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 205, [1] с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр.: с. 202 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | учебные пособия для вузов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые материалы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение удельной электрической проводимости полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение эффекта Холла полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение параметров неравновесных носителей заряда полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение фотопроводимости полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение фотомагнитоэлектрического эффекта полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение поверхностных характеристик полупроводников |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Полочный индекс | 621.3 |
| Авторский знак | П121 |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 109780 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 0.54 | 1-212372 | 13820000783151 | 1 месяц | ||||
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 0.54 | 1-220464к | 13820000783150 | Выдается в читальный зал |