Normal view
MARC view
Влияние уровня легирования кремния на чувствительность к водороду барьерных структур Pd/n-Si В.М. Калыгина, Л.С. Хлудкова
Material type: ArticleSubject(s): электронные приборы | труды ученых ТГУ | физические процессы | электрические характеристики | кремний | легирование | водород | барьерные структуры In: Труды V международной конференции "Актуальные проблемы электронного приборостроения, АПЭП-2000", Новосибирск, 26-29 сентября 2000: В 7 т Т.2. С. 126-128No physical items for this record
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.