Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Материаловедение и технологии электроники учебное пособие : [для студентов вузов, обучающихся по направлению подготовки 11.03.04 (210100) "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 (222900) "Нанотехнологии и микросистемная техника", 12.03.02 (200400) "Оптотехника", 27.03.01 (221700) "Стандартизация и метрология", 11.03.03 (211000) "Конструирование и технология электронных средств", 12.03.01 (200100) "Приборостроение", 20.04.01 (280700) "Техносферная безопасность", 12.05.01 (200401) "Электронные и оптико-электронные приборы и системы специального назначения"] В. И. Капустин, А. С. Сигов

By: Капустин, Владимир Иванович, 1948-Contributor(s): Сигов, Александр Сергеевич, 1945-Material type: TextTextLanguage: Russian Series: Высшее образование | Электронно-библиотечная система "Znanium.com"Publication details: Москва ИНФРА-М 2014Description: 425, [1] с. ил., таблISBN: 9785161012208; 9785160089669Subject(s): радиотехнические материалы | Радиоэлектронная аппаратура -- Производство | учебные издания для вузов | физико-химический анализ | состав-свойство, диаграммы | твердые тела | атомные структуры | твердые тела кристаллические, структура | дефекты кристаллической структуры | дефекты точечные | дефекты линейные | упрочнение кристаллов | границы зерен, сегрегация | межатомные связи | Ван-дер-Ваальса связь | физикохимия свойств материалов | энергия связи молекул | точечные дефекты | оксидные материалы | твердые растворы, структура | промежуточные фазы, структура | диффузия в материалах | фазовые превращения | изменение структуры материалов | изменение свойств материалов | материалы электронной техники | конструкционные материалы | материалы физической электроники | материалы микроэлектроники | материалы с особыми свойствами | технологии электроники | исследования материалов, методы | аналитические методы | электронная спектроскопия | Оже-электронная спектроскопия | масс-спектроскопия | приборы электронной спектроскопии | испытания материалов, методыOther classification: З843я73-1 | З844-06я73-1
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Holdings
Item type Current library Call number Copy number Status Date due Barcode
Выдается по месту хранения Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 620.22 К207 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available 13820000890571
1 месяц Научная библиотека ТГУ Читальный зал. Депозитарий 62 К207 (Browse shelf(Opens below)) 2 Available 13820000890572

Допущено УМО вузов по университетскому политехническому образованию

Библиогр.: с. 419-422

There are no comments on this title.

to post a comment.