Normal view
MARC view
Зондирующие методы исследований в материаловедении учебное пособие : [для студентов старших курсов университетов по направлениям подготовки бакалавров и магистров "Материаловедение и технология материалов", "Электроника и наноэлектроника", аспирантов по специальности "Физика конденсированного состояния"] В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; Астраханский гос. ун-т, Центр функциональных магнитных материалов
Material type:
TextPublication details: Астрахань Издатель Сорокин Роман Васильевич 2014Description: 214 с. ил., таблISBN: 9785919103424Subject(s): взаимодействие излучения с веществом | взаимодействие электромагнитного излучения с веществом | оптика пучков частиц | структурный анализ кристаллов | ядерный магнитный резонанс | ферромагнитный резонанс | рентгеноструктурный анализ | нейтронография | электронография | электронная микроскопия просвечивающая | электронная микроскопия растровая | рентгеноспектральный микроанализ | электронная оже-спектроскопия | рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия | масс-спектрометрия вторичных ионов | ядерная гамма-резонансная спектроскопия | сканирующая зондовая микроскопия
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается по месту хранения | Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 | 539 К26 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000945725 |
Библиогр.: с. 209-214
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.