Normal view
MARC view
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем А. А. Чернышев. ; Ред. : Н. Н. Кузнецова
Material type:
TextPublication details: М. Радио и связь 1988Description: 254 с
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-664765 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 13820000260956 |
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.