Normal view
MARC view
Применение фрактального анализа для численного описания воздействия электрического тока на морфологию поверхности тонких пленок А. Р. Шугуров
Material type:
ArticleOther title: Numerical charaterization og the effect of electic current on surface morphology of thin films using fractal analysis [Parallel title]Subject(s): труды ученых ТГУ | тонкие пленки | проводники тонкопленочные | фрактальный анализ | фрактальная размерность
In:
Физика и химия наноматериалов : сборник материалов Международной школы-конференции молодых ученых, 13-16 декабря 2005 г., Томск, Россия С. 279-286
No physical items for this record
Библиогр.: 5 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.